Diffraction et Diffusion des Rayons X

D2RX
Chimie et matériaux Plateforme Sciences pour une planète en mutation

Notre plateforme regroupe 8 diffractomètres à rayons X et un appareil de diffraction/diffusion des rayons X à bas angles (SAXS/WAXS). Cet ensemble d’équipements donne accès à différentes analyses structurales sur composés polycristallins, monocristallins et sur des couches minces que ce soit à l’ambiante ou sous sollicitation (température, pression, humidité, gaz …). Nous sommes ouverts à tous les partenaires (chercheurs, étudiants et industriels) désirant réaliser une étude par diffraction des rayons X sur des solides cristallisés.

Informations

Responsable technique : Frédéric Capet
Responsable scientifique : Pascal Roussel

http://uccs.univ-lille1.fr/index.php/fr/ressources/2-non-categorise/59-diffraction-x

Bâtiment Chevreul, Avenue Paul Langevin
Campus Cité scientifique, Université de Lille
59655 VILLENEUVE D'ASCQ

Mots-clés

Rayons X, Diffraction, Diffusion, Structure cristalline, Transitions de phases, Identification, Quantification, Micro diffraction, Polymères, Couches minces

Localisation

  • Composition de mélanges de phases cristallisées
  • Céramiques, composites, catalyseurs, ciments
  • Analyses structurales de solides cristallisés (organiques ou minéraux, purs ou en mélanges, sous forme pulvérulente, massive ou monocristalline).
  • Structures cristallines (organiques, inorganiques, organo-métalliques)
  • Chimie fine, réactifs organiques ou inorganiques
  • Polymères cristallisés
  • Biomatériaux, Nanomatériaux
  • Couches minces (figure de pôles, cartographie espace réciproque, incidence rasante, réflectométrie, etc...)

Exemples de projets :

  • Détermination de la composition de mélanges de phases cristallisées (identification, quantification) : taille de cristallites, méthode Rietveld
  • Etudes de transitions de phases sous sollicitation (hautes températures, humidité, gaz …)
  • Résolution structurale sur monocristaux (ambiante, hautes et basses températures, hautes pressions) et/ou sur poudres
  • Détermination de structure absolue
  • Evolution structurale induite par déformation, plasticité des polymères, diffraction-diffusion X, biopolymères
  • Couches minces : mesures en incidence rasante, réflectométrie, figures de pôles, texture, cartographie de l'espace réciproque, rocking curves, etc

Notre plateforme dispose de plusieurs équipements :

  • 1 banc SAXS (Xeuss 2.0 - Xenocs) destiné à la diffraction/diffusion des rayons X à bas angles (SAXS/WAXS)
  • 2 diffractomètres RX monocristaux (DUO et Quazar - BRUKER) pour la résolution structurale sur monocristaux
  • 2 diffractomètres RX poudres ambiante (D8 Advance A25 – BRUKER- et X’pert pro - Malvern) destinés aux études sur composés polycristallins à température ambiante
  • 2 diffractomètres RX poudres hautes températures pour des études sur composés polycristallins de la Température ambiante à 1200°C sous gaz réactifs (D8 – BRUKER - équipés de chambres XRK900 et HTK1200)
  • 1 diffractomètre RX à anode tournante (SMARTLAB - RIGAKU) permettant l’étude de couches minces en fonction de la température
  • 1 diffractomètre RX à anode tournante (SMARTLAB XE - RIGAKU) destiné aux études sur composés polycristallins en fonction de la température (de -260°C à 1500°C) et à haute résolution Kalpha1

Découvrez la liste détaillée des équipements.

Privés
Orano, Framatome, IMRA, Solvay, Total, Roquette, CEA, Corning, EDF, Engie, IRSN, Renault, Safran, Snecma

Académiques
IMT Lille Douai, Institut Jean le Rond D'Alembert (Sorbonne université), Institut Pasteur de Lille, Université d’Artois
Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (Suisse), Université de Mons (Belgique), Université de Brescia (Italie), Université de Lisbonne (Portugal)

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