Plateforme de Microscopie Electronique de Lille
Notre plateforme PMEL est un centre national de microscopie électronique dont les activités sont centrées sur la caractérisation de matériaux (métaux, verres, céramique, polymères, minéraux) avec une expertise en nano-analyse quantitative et en diffraction électronique. Grâce à nos équipements (microscopes électroniques à transmission, microscopes électroniques à balayage, microsonde électronique, équipements de préparation d'échantillons), nous pouvons décrire les microstructures et les compositions chimiques d'échantillons à l'échelle nanométrique et subnanométriques et effectuer des études spectroscopiques portant sur les états de valences, les environnements physico-chimiques des atomes et des analyses ab-initio des structures. Nous effectuons également des études de quantification fine des compositions pour des éléments mineurs et de cartographie chimique. Ouvert aussi bien au monde industriel qu'au monde académique, nous proposons de répondre à vos besoins quel que soit votre projet.
Informations
Responsable technique : Jean-François Dhenin
Responsable scientifique : Damien Jacob
Bâtiment Chevreul, avenue Paul Langevin
Campus Cité scientifique, Université de Lille
59650 VILLENEUVE D'ASCQ
Mots-clés
Microscopie à balayage, Microscopie électronique en transmission, Microsonde électronique, Cristallographie électronique, Tomographie, Microstructures, Compositions, Atomes, Analyse de surface, MinéralogieLocalisation
- Cristallographie électronique (résolution et affinement de structure) à l’aide des techniques de diffraction électronique en précession en mode tomographie (PEDT)
- Cartographie de phase et d’orientation en MET (technique ACOM) et en MEB (techniques EBSD (électrons rétrodiffusés) et TKD (en transmission))
- Microscopie haute résolution (atomique) en contraste de numéro atomique (HRSTEM HAADF)
- Microscopie électronique en transmission
- Microscopie électronique à balayage
- Tomographie électronique
- Approche quantitative des hyper-spectres des cartographies EELS, EDS et WDS
- Traitement des données multidimensionnelles par le logiciel Hyperspy
Exemples de projets :
- Transformations de phase dans une météorite martienne
- Caractérisation microstructurales de films minces d’oxydes utilisés dans des nano dispositifs
- Analyse de catalyseurs bimétalliques Fe-Ni
- Caractérisations microstructurales de nouveaux Alliages à Haute Entropie
- Analyses chimiques, structurales ou microstructurales, des métaux, des verres, de la céramique, des polymères, des minéraux et des matériaux pour la catalyse, de l’échelle du micron à celle de l’atome
- Observation et analyse d’échantillons très minces (par exemple, films minces d’oxydes) et de petites dimensions (de l’ordre du millimètre)
- Conception et caractérisation de composites à matrice métallique
- Caractérisation et tomographie des défauts cristallins (en particulier des dislocations)
- Caractérisation des mécanismes de déformations
- Quantification fine des compositions pour des éléments mineurs
- Quantification des éléments légers par spectroscopie
- Cartographie de Phase et d’Orientation
- Cartographie chimique
- Analyse structurale ab initio par précession électronique et tomographie
- Microanalyse par microsonde électronique
La plateforme PMEL est équipée de deux microscopes électroniques à transmission (un Thermo Fischer Titan Themis 60-300kV et un Thermo Fischer Tecnai 200 kV), trois microscopes électroniques à balayage (dont un MEB basse pression Jeol, un MEB HITACHI SU 5000 analytique à pression variable et un MEB du table Hitachi) et une microsonde électronique (CAMECA SX 100). Un ensemble d’équipements de préparation d'échantillons est également disponible, comprenant des microtomes ou ultra-microtomes (cryo), un système de polissage mécanique semi-automatique et des machines d’amincissement et de polissage ionique de précision.
Découvrez la liste détaillée des équipements.
Privés
ADEO, APERAM, EDF, FEDERAL MOGUL, GrafTech France SNC, MORIA, Nano SERVE, PLASTIUM, Saint-Gobain, VALLOUREC
Académiques
Railenium, CEREGE, ENSAIT, IMPMC, IMT, Institut Français du Textile, IRCER, CSNSM, ISTeP, MNHN, Université de Reims, Université de Liège